CALCUL DU SPECTRE DE REFLEXION DU MULTICOUCHE Ni/C DANS LE DOMAINE DES RAYONS X
الكلمات المفتاحية:
Couches minces، multicouche، réflexion، modèle multicoucheالملخص
Le pouvoir réflecteur d’un dioptre quelconque dans le domaine des rayons X est trop faible, mais il est toujours possible de choisir des systèmes pouvant présenter un pic de réflexion d’intensité importante autour d’une incidence caractéristique du matériau. Ce dernier est un multicouche, composé de deux couches déposées en sandwich.
Nous avons élaboré un programme qui permet de calculer la réflexion d’un tel matériau en suivant la méthode d’Abelès dans laquelle une couche mince est représentée par une matrice carrée contenant toutes les informations nécessaires pour le calcul de la réflexion. Ce programme tient compte aussi des rugosités aux interfaces du multicouche, vue leur importante influence sur l’intensité du pic apparaissant sur le spectre de réflexion.
L’application du programme au multicouche Ni/C a montré l’existence d’un pic centré autour de 31.32°. Son intensité est sensible au nombre de périodes dans le multicouche, aux épaisseurs des couches minces de Ni et de C et à la taille des rugosités des interfaces Ni/C et C/Ni.
التنزيلات
المراجع
- Boufelfel A. and Falco C.M., Thin. Solid. Films, 258, (1995), pp. 26-33.
- Macquart P., Thèse de Doctorat, Université de Paris 6, (1990), pp. 89-101.
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- Stearns D.G., J. Appl. Phys., 65, N°2, (1989), pp. 491-506.
- Parjadis de Larivière G., Frigerio G.M., Rivory J. and Abelès F., Applied Optics, 31, N°28, (1992), pp. 6056-6060.
- Spiller E., "Multilayer X-ray mirrors", University of Rochester, New-York, (1986), p. 10.
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