[1]
« TRAITEMENT NUMERIQUE DES MESURES PAR SONDE IONIQUE. APPLICATION AUX SILICIURES », STB, nᵒ 1, p. 9–16, déc. 2001, Consulté le: 15 octobre 2025. [En ligne]. Disponible à: https://revue.umc.edu.dz/b/article/view/1863