CALCUL DU SPECTRE DE REFLEXION DU MULTICOUCHE Ni/C DANS LE DOMAINE DES RAYONS X

Authors

  • A MEDDOUR Centre Universitaire du 8 Mai 1945 Guelma
  • A.G BOUDJAHEM Centre Universitaire du 8 Mai 1945 Guelma

Keywords:

Couches minces, multicouche, réflexion, modèle multicouche

Abstract

Le pouvoir réflecteur d’un dioptre quelconque dans le domaine des rayons X est trop faible, mais il est toujours possible de choisir des systèmes pouvant présenter un pic de réflexion d’intensité importante autour d’une incidence caractéristique du matériau. Ce dernier est un multicouche, composé de deux couches déposées en sandwich.

                Nous avons élaboré un programme qui permet de calculer la réflexion d’un tel matériau en suivant la méthode d’Abelès dans laquelle une couche mince est représentée par une matrice carrée contenant toutes les informations nécessaires pour le calcul de la réflexion. Ce programme tient compte aussi des rugosités aux interfaces du multicouche, vue leur importante influence sur l’intensité du pic apparaissant sur le spectre de réflexion.

                L’application du programme au multicouche Ni/C a montré  l’existence d’un pic centré autour de 31.32°. Son intensité est sensible au nombre de périodes dans le multicouche, aux épaisseurs des couches minces de Ni et de C et à la taille des rugosités des interfaces Ni/C et C/Ni.

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Author Biographies

A MEDDOUR, Centre Universitaire du 8 Mai 1945 Guelma

Institut de Génie des Procédés

A.G BOUDJAHEM, Centre Universitaire du 8 Mai 1945 Guelma

Institut de Génie des Procédés

References

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Published

2000-12-01

How to Cite

MEDDOUR, A., & BOUDJAHEM, A. (2000). CALCUL DU SPECTRE DE REFLEXION DU MULTICOUCHE Ni/C DANS LE DOMAINE DES RAYONS X. Sciences & Technology. A, Exactes Sciences, (14), 43–46. Retrieved from http://revue.umc.edu.dz/index.php/a/article/view/1668

Issue

N° 14 Décembre 2000

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