CALCUL DU SPECTRE DE REFLEXION DU MULTICOUCHE Ni/C DANS LE DOMAINE DES RAYONS X

Auteurs-es

  • A MEDDOUR Centre Universitaire du 8 Mai 1945 Guelma
  • A.G BOUDJAHEM Centre Universitaire du 8 Mai 1945 Guelma

Mots-clés :

Couches minces, multicouche, réflexion, modèle multicouche

Résumé

Le pouvoir réflecteur d’un dioptre quelconque dans le domaine des rayons X est trop faible, mais il est toujours possible de choisir des systèmes pouvant présenter un pic de réflexion d’intensité importante autour d’une incidence caractéristique du matériau. Ce dernier est un multicouche, composé de deux couches déposées en sandwich.

                Nous avons élaboré un programme qui permet de calculer la réflexion d’un tel matériau en suivant la méthode d’Abelès dans laquelle une couche mince est représentée par une matrice carrée contenant toutes les informations nécessaires pour le calcul de la réflexion. Ce programme tient compte aussi des rugosités aux interfaces du multicouche, vue leur importante influence sur l’intensité du pic apparaissant sur le spectre de réflexion.

                L’application du programme au multicouche Ni/C a montré  l’existence d’un pic centré autour de 31.32°. Son intensité est sensible au nombre de périodes dans le multicouche, aux épaisseurs des couches minces de Ni et de C et à la taille des rugosités des interfaces Ni/C et C/Ni.

Téléchargements

Les données relatives au téléchargement ne sont pas encore disponibles.

Bibliographies de l'auteur-e

A MEDDOUR, Centre Universitaire du 8 Mai 1945 Guelma

Institut de Génie des Procédés

A.G BOUDJAHEM, Centre Universitaire du 8 Mai 1945 Guelma

Institut de Génie des Procédés

Références

- Boufelfel A. and Falco C.M., Thin. Solid. Films, 258, (1995), pp. 26-33.

- Macquart P., Thèse de Doctorat, Université de Paris 6, (1990), pp. 89-101.

- Rosenbluth A.E., Phys. Appl., 23, (1988), pp. 1599-1621.

- Stearns D.G., J. Appl. Phys., 65, N°2, (1989), pp. 491-506.

- Parjadis de Larivière G., Frigerio G.M., Rivory J. and Abelès F., Applied Optics, 31, N°28, (1992), pp. 6056-6060.

- Spiller E., "Multilayer X-ray mirrors", University of Rochester, New-York, (1986), p. 10.

- Névot L. and Grose P., Phys. Appl., 15, (1980), pp. 761-7790

Téléchargements

Publié-e

2000-12-01

Comment citer

MEDDOUR, A., & BOUDJAHEM, A. (2000). CALCUL DU SPECTRE DE REFLEXION DU MULTICOUCHE Ni/C DANS LE DOMAINE DES RAYONS X. Sciences & Technologie. A, Sciences Exactes, (14), 43–46. Consulté à l’adresse http://revue.umc.edu.dz/index.php/a/article/view/1668

Numéro

N° 14 Décembre 2000

Rubrique

Articles

Licence

Les auteurs publiant dans cette revue acceptent les termes suivants :

  1. Les auteurs détiennent le droit d'auteurs et accordent à la revue le droit de première publication, avec l’ouvrage disponible simultanément [SPÉCIFIER LA PÉRIODE DE TEMPS] après publication, sous la licence Licence d’attribution Creative Commons qui permet à d'autres de partager l'ouvrage en en reconnaissant la paternité et la publication initiale dans cette revue.
  2. Les auteurs peuvent conclure des ententes contractuelles additionnelles et séparées pour la diffusion non exclusive de la version imprimée de l'ouvrage par la revue (par ex., le dépôt institutionnel ou la publication dans un livre), accompagné d'une mention reconnaissant sa publication initiale dans cette revue.
  3. Les auteurs ont le droit et sont encouragés à publier leur ouvrage en ligne (par ex., dans un dépôt institutionnel ou sur le site Web d'une institution) avant et pendant le processus de soumission, car cela peut mener à des échanges fructueux ainsi qu'à un nombre plus important, plus rapidement, de références à l’ouvrage publié (Consulter The Effect of Open Access).